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| テスト項目: | 比、巻線抵抗、無負荷損失、負荷損失、耐誘導電圧、温度上昇 | 出力周波数: | 100-150 Hz |
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| 制御システム: | コンピュータベース | 測定単位: | 直流抵抗、比率とベクトルグループ、温度検査 |
| パワーコントロール: | 三相4線式 | データ処理: | 自動補正と変換 |
| 温度チャネル: | 多チャンネル測定 | テスト力: | 周波数逓倍発生器 |
| ハイライト: | 巻数比試験付き変圧器試験システム,電力変圧器巻線抵抗試験器,変圧器無負荷損試験システム |
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SXBZ-II トランスフォーマー総合試験システムは,電源トランスフォーマーメーカーとトランスフォーマー試験施設のために設計されています.コントロールキャビネット変圧器の常規試験と専門的な性能評価を行うため,電圧比とベクトル群の測定を含む指定された試験項目,ローリングDC抵抗の測定負荷不負と負荷不負の電流試験,負荷不負と短回路阻力測定,誘発電圧耐久試験,温度上昇試験
完全なシステムは次の主要な単位で構成されています.
自動試験制御:3相4ワイヤの電源制御,レギュレーター電源制御,電圧調整,トランスフォーマータップ選択,補助キャビネットスイッチ,テスト機能のアクティベーションまたは非アクティベーションをサポートします.
電気パラメータモニタリング:個々の試験手順中に必要な電圧と電流を監視する.
コンピュータ操作:コンピュータによる制御と試験結果の自動保存を可能にします.
トランスフォーマー総合試験:比率とベクトルグループ,回転DC抵抗,無負荷,負荷,誘発電圧耐性,温度上昇テストをサポートします.
自動データ処理無負荷と負荷テストユニットは測定の修正をサポートし,負荷損失結果は指定された基準温度に変換できます.
温度記録:温度検査ユニットは,多チャンネル測定,データ保存,温度曲線表示,設定されたソフトウェアを通じてレポート印刷をサポートします.
Q1: システムはどんなテストを行うことができるのですか?
A: 電圧比とベクトルグループテスト,回転DC抵抗テスト,無負荷テスト,負荷とショート回路インピーダンスのテスト,誘発電圧抵抗テスト,温度上昇試験.
Q2: システムは試験結果を自動的に保存できますか?
A: はい.コンピュータベースの制御システムは,テスト結果の自動保存をサポートし,個々の測定ユニットは,指定されたデータ保存および輸出機能を提供します.
Q3: 周波数増殖発電機セットの機能は?
A: トランスフォーマー誘導電圧抵抗と部分放電試験のための高周波電源を提供します. 指定された設定は100~150Hzの出力周波数を提供します.記述された用途に使用される 150 Hz.
Q4: システム構成はカスタマイズできますか?
A: トランスフォーマーの評価値,必要な試験項目,およびプロジェクト条件に基づいて構成を確認する必要があります.最終的な技術提案は,選択された測定装置と補助装置を指定する必要があります..
コンタクトパーソン: Miss. Kelly Pan
電話番号: +8618186672186